6. Комплекс микроструктурирования поверхности оптических материалов
Ответственный:
д. т. н. Корольков Виктор Павлович,
тел.: (383) 3333-091; факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Общая характеристика:
Экспериментальный комплекс микроструктурирования поверхности оптических материалов обеспечивает возможность напыления покрытий, формирование микрорисунка фотошаблонов, микроструктуры рельефно-фазовых оптических элементов на поверхности оптических подложек.
Комплекс позволяет изготавливать фотошаблоны общего назначения, бинарные и многоуровневые дифракционные оптические элементы, конформальные корректоры аберраций лазерных кристаллов, травить кварцевые подложки на глубину до 5 мкм, напылять плёнки хрома и меди на подложки диаметром до 350 мм, изготавливать экспериментальные образцы прецизионных подложек, линз и призм, осуществлять резку оптических кристаллов.
Состав:
- Установка магнетронного напыления металлов АТС-220ОН;
- Установка реактивного ионного травления Plasmalab 80Plus;
- Круговая лазерная записывающая система CLWS-300IAE;
- Чистая комната участка фотолитографии с комплексом приборов микроскопического и профилометрического контроля;
- Оптический участок с комплексом технологического и метрологического оборудования по изготовлению уникальных оптических элементов.
  
5. Комплекс прецизионного прототипирования
Ответственный:
Кожевников Михаил Леонидович
тел.: (383) 330-89-17;
факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Общая характеристика:
Комплекс прецизионного прототипирования проводит полный цикл работ по изготовлению опытных образцов и опытных партий изделий по чертежам заказчика. Поддержка собственной базы экспериментального производства сделала ЦКП ИАиЭ СО РАН незаменимым партнёром по разработке приборов и технологического оборудования для ряда российских научно-производственных организаций, ограниченных в возможностях использования импортного оборудования. Сосредоточение современного технологического оборудования в ЦКП при академическом институте в сочетании с высочайшей квалификацией операторов создаёт центры компетенции, которые становятся базой для делового сотрудничества с российскими научно-производственными предприятиями и помогает им перейти на новые технологии и выпуск новой продукции.
Состав комплекса:
- Обрабатывающий центр с ЧПУ ВХ300А (Pinnacle Machine)
- Станок круглошлифовальный MG1432E/1000
- Станок токарный с ЧПУ НТС45150
- Станок универсальный заточной "РР-50+50D+50F"
 
3. Комплекс для исследования структуры материалов на нанометровых масштабах
Ответственный:
д. ф.-м. н., проф. Малиновский Валерий Константинович,
тел. (383) 3309048; факс: (383) 3333863;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Комплекс включает следующее основное оборудование:
- Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
- Тройной Рамановский спектрометр TR777AS с лазером Torus 750 и цифровой системой многоканальной регистрации спектра Spec-10 System
- Дифференционный сканирующий калориметр динамического тепловоого потока с системой охлаждения LN2
- Спектрометр JRS TFP-1в комплекте с источником излучения EXLSR-532-200-CD
 
Тройной Рамановский спектрометр Спектрометр ИК-Фурье Vertex 80V
4. Комплекс для исследований материалов методами терагерцовой спектроскопии
 Ответственный:
к. ф.-м. н. Анцыгин Валерий Дмитриевич,
тел. (383) 3308453; факс: (383) 3308878;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Общая характеристика:
Широкополосная терагерцовая (ТГц) спектроскопия предназначена для:
- исследования полупроводниковых материалов и структур, в том числе систем пониженной размерности, без нарушения их функционирования;
- бесконтактных неинвазивных исследований конформационных превращений биологических объектов под влиянием окружающей среды и при взаимодействии друг с другом;
- изучения внутренней структуры и идентификации сложных биологических молекул (аминокислот, полипептидов, белков, ДНК и РНК);
- неинвазивной диагностики, в т. ч. в медицине;
- обнаружения взрывчатых, наркотических и других опасных веществ.
Терагерцовые спектрометры с накачкой и регистрацией ТГц-излучения на основной (λ=1550 нм) и второй гармонике (λ=775 нм) импульсных (~100 фс) эрбиевых волоконных лазеров. Генерация терагерцового излучения осуществляется за счёт эффекта оптического выпрямления или эффекта Дембера, а регистрация напряжённости терагерцового поля - поляризационно-оптическим методом.
Спектрометры обеспечивают измерения отражения и пропускания
- спектральный диапазон: 0,1-2,5 ТГц
- спектральное разрешение ≤10 ГГц
- динамический диапазон
- амплитуды терагерцового поля ≥1000
- длина волны лазера накачки, нм 775, 1550
- длительность лазерного импульса, фс 100
2. Комплекс для создания и исследования оптических и нелинейно-оптических свойств нанокомпозитных сред
Ответственный:
к. ф.-м. н. Микерин Сергей Львович,
тел. (383) 3333174; факс: (383) 330-88-78;
e-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Общая характеристика:
Комплекс обеспечивает возможность создания нанокомпозитных сред при лазерном испарении мишени в буферном газе, инфильтрации наноразмерных объектов в матрицы или пористые вещества, фотомодификации сред при лазерном воздействии, исследование оптических спектров сред, спектров комбинационного рассеяния, а также нелинейно-оптических свойств нанокомпозитных сред методами Z-сканирования, пробного поля, четырехфотонного рассеяния в широком спектральном диапазоне.
Комплекс включает следующие установки:
Лазерный быстродействующий элипсометр
Электронный микроскоп Hitachi TM-3000
Ближнепольный и атомно-силовой микроскоп «Nanonics MultiView 2000TM»
Спектрофлюориметр Cary Eclipse
Двухканальный спектрофотометр UV-Probe 2000 (Shimadzu)
Лазер Verdi - V10
|
