07.09.2017
Технический семинар «Измерительное оборудование для волоконной оптики и интегральной фотоники»
8 сентября 2017 года в 14-00 в конференц-зале ИАиЭ СО РАН (г. Новосибирск, пр. Академика Коптюга, д. 1, 3 этаж) состоится технический семинар «Измерительное оборудование для волоконной оптики и интегральной фотоники» с участием Ian Shannan (Luna Innovations Incorporated (США)), семинар будет включать презентацию оборудования.
В ходе презентации будет продемонстрирована работа рефлектометра высокого разрешения OBR 4600 с демонстрацией возможностей прибора на компонентах заказчиков.
ПРОГРАММА ТЕХНИЧЕСКОГО СЕМИНАРА
|
Презентация компании «Специальные Системы. Фотоника».
Волоконно-оптические компоненты, измерительное, тестовое и технологическое оборудование для волоконной оптики.
|
14:00- 14:50 |
Специальные Системы. Фотоника
Россия
Евгений Кудров |
Специализированный дистрибьютор компонентов и оборудования для волоконных лазеров, датчиков, ВОЛС и интегральной фотоники.
|
Презентация компании Luna Innovations Incorporated (США).
Рефлектометры высокого разрешения и оптические векторные анализаторы для измерения и анализа параметров волоконно-оптических компонентов и систем. |
15:00-
16:10 |
Luna
США / Великобритания
Ian Shannan |
Американский производитель измерительного и аналитического оборудования для волоконной и интегральной оптики на базе технологии оптической рефлектометрии частотной области (OFDR).
- Рефлектометры высокого разрешения серии OBR для измерения параметров потерь в оптических световодах до 2 км с пространственным разрешением 10 мкм, без мертвой зоны.
- Оптические векторные анализаторы серии OVA, как комплексные универсальные измерители всех характеристик волоконно-оптических и интегрально-оптических компонентов.
- Вопросы применения высокоточного измерительного оборудования для решения задач в области радиофотоники, интегральной фотоники и различных волоконно-оптических систем.
В ходе презентации будет продемонстрирована работа рефлектометра высокого разрешения OBR 4600, возможна демонстрация возможностей прибора на компонентах заказчиков. |
Оптические рефлектометры обратного рассеяния (Optical Backscatter Reflectometer™ (OBR)) от компании Luna обеспечивают беспрецедентные возможности анализа и диагностики для волоконно-оптической индустрии. Рефлектометры серии OBR позволяют избежать ошибок и проблем задолго до окончательного тестирования (выходного контроля) изделий, сохраняя часы работы специалистов и финансовые ресурсы при увеличении качества и скорости измерений.
Лучшее на рынке пространственное разрешение 10 мкм с нулевой мертвой зоной позволяет определить и локализовать даже небольшие участки с оптическими потерями: изгибы, скручивания, участки с плохой сваркой и др. Опция распределенных измерений обеспечивает еще более полное представление о том, что происходит в системе. Рефлектометры серии OBR от компании Luna позволяют получить наиболее полные данные о компоненте или волоконно-оптический системе.
Материал в формате pdf