4. Комплекс для исследований материалов методами терагерцовой спектроскопии

Ответственный:
к. ф.-м. н. Анцыгин Валерий Дмитриевич,
тел. (383) 3308453; факс: (383) 3308878;
e-mail: This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.

Общая характеристика:

Широкополосная терагерцовая (ТГц) спектроскопия предназначена для:

• исследования полупроводниковых материалов и структур, в том числе систем пониженной размерности, без нарушения их функционирования;
• бесконтактных неинвазивных исследований конформационных превращений биологических объектов под влиянием окружающей среды и при взаимодействии друг с другом;
• изучения внутренней структуры и идентификации сложных биологических молекул (аминокислот, полипептидов, белков, ДНК и РНК);
• неинвазивной диагностики, в т. ч. в медицине;
• обнаружения взрывчатых, наркотических и других опасных веществ.

Терагерцовые спектрометры с накачкой и регистрацией ТГц-излучения на основной (λ=1550 нм) и второй гармонике (λ=775 нм) импульсных (~100 фс) эрбиевых волоконных лазеров. Генерация терагерцового излучения осуществляется за счёт эффекта оптического выпрямления или эффекта Дембера, а регистрация напряжённости терагерцового поля - поляризационно-оптическим методом.

Спектрометры обеспечивают измерения отражения и пропускания

• спектральный диапазон: 0,1-2,5 ТГц
• спектральное разрешение ≤10 ГГц
• динамический диапазон
• амплитуды терагерцового поля ≥1000
• длина волны лазера накачки, нм 775, 1550
• длительность лазерного импульса, фс 100